AEC-Q 测试是否等同于“认证”
AEC-Q测试是汽车电子组件可靠性压力验证过程，但不等于正式认证。官方无AEC认证机制，供应商需自执行测试并提交数据证明合规。本文剖析二者区别、流程及误解，帮助芯片供应商避免陷阱，确保产品顺利进入汽车供应链。
什么是 AEC-Q100？适用于哪些芯片
AEC-Q100是汽车电子理事会制定的集成电路可靠性资格标准，确保芯片在高温、高湿等极端条件下稳定工作。本文详解其定义、等级划分、适用芯片类型如传感器和电源管理芯片，以及测试方法与认证流程，帮助芯片设计师和汽车制造商了解车规级检测的重要性，提升产品安全与性能。
芯片可靠性测试中的洁净度控制为何重要？
深入解析洁净度对芯片可靠性测试结果的影响，重点分析颗粒污染如何引发短路、漏电等失效，并介绍实验室ISO洁净室等级管理标准与实践要求。关键词：可靠性测试环境, 洁净室, 芯片可靠性测试。
如何用OBIRCH快速定位芯片内部短路点？
详解OBIRCH（光束诱导电阻变化）技术在芯片失效分析中的应用，涵盖工作原理、激光参数设置、信号处理技巧与定位精度优化方法，助力工程师高效锁定内部短路故障。关键词：芯片失效分析, OBIRCH, 短路定位。
如何选择适合的芯片可靠性测试设备？
实用指南教你选择芯片可靠性测试设备，涵盖ATE平台、高温老化炉选型与预算策略，提升测试效率与质量。
半导体测试培训：为何是芯片行业必修课？
探讨半导体测试培训的重要性，介绍如何通过培训提升芯片测试技能，助力5G、AI芯片开发。
HTOL测试如何保障芯片长期可靠性？
深入讲解HTOL测试流程、参数及在芯片可靠性中的作用，掌握高温老化测试技术，保障5G、AI芯片长期稳定。
如何提升芯片测试开发的效率？教你5个实用技巧
掌握5个实用技巧提升芯片测试开发效率，涵盖并行测试、ATE测试平台及自动化工具，助力5G、AI芯片量产。
芯片测试到底是干嘛的？小白入门必看！
芯片测试是做什么的？本文专为初学者设计，用严谨易懂的方式解释芯片测试的基本概念、为何重要以及主要测试环节，快速了解IC测试。