AEC-Q100是由汽车电子委员会（Automotive Electronics Council, AEC）制定的一项针对集成电路（IC）的应力测试认证标准。它并非一个强制认证，而是目前国际上公认的车规级芯片验证标准。通过AEC-Q100测试，意味着该芯片的可靠性能满足汽车严苛应用环境的要求，是芯片进入汽车前装市场的“通行证”。
为何如此重要？
与消费电子产品不同，汽车的工作环境极其恶劣（剧烈温差、振动、电磁干扰），且对安全性和可靠性有着近乎零容忍的要求。AEC-Q100的目的就是通过一系列严苛的可靠性测试，筛选出能够在汽车长达15-20年生命周期内稳定工作的芯片，确保行车安全。
核心测试项目
AEC-Q100包含七大类、数十项具体的测试项目，系统性地评估芯片的长期可靠性：
- 测试组A – 加速环境应力： 模拟芯片在各种极端环境下的长期工作状态。包括高温工作寿命(HTOL)、温度循环(TC)、高加速温湿度应力(HAST)等。
- 测试组B – 加速寿命模拟： 评估芯片的寿命和磨损机制。包括高温存储(HTSL)、早期失效率(ELFR)等。
- 测试组C – 封装完整性： 验证芯片封装的可靠性。包括物理尺寸、可焊性(SD)、引线键合强度(WBS)等。
- 测试组D – 芯片晶圆可靠性： 针对芯片本身（Die）的可靠性。包括电迁移(EM)、热载流子注入(HCI)、介质击穿(TDDB)等。
- 测试组E – 电学验证： 验证芯片抗外部电干扰的能力。包括静电放电(ESD)、闩锁效应(Latch-up)等。
- 测试组F – 缺陷筛选： 用于筛选出制造过程中的潜在缺陷。包括过程平均测试(PAT)。
- 测试组G – 腔体封装完整性： 针对带空腔的特殊封装进行的测试。
关键的温度等级
AEC-Q100根据芯片的工作温度范围，将其划分为不同的等级，直接决定了芯片在汽车上的应用位置：
- Grade 0： -40°C to +150°C (发动机舱等最恶劣环境)
- Grade 1： -40°C to +125°C (引擎周边、变速箱等高温区域)
- Grade 2： -40°C to +105°C (乘客舱内、仪表盘等)
- Grade 3： -40°C to +85°C (信息娱乐系统、音频系统等)
- Grade 4： 0°C to +70°C (非关键应用)
“认证”流程概述
AEC-Q100并非由AEC机构直接“认证”，而是一种“自我认证”或“自我声明”的流程。芯片制造商需：
- 定义产品系列： 确定需要进行认证的芯片产品家族。
- 制定测试计划： 依据AEC-Q100标准，结合产品特性，制定详细的测试项目、条件和样品数量。
- 执行测试： 委托具备相应资质的第三方实验室（如德垲检测）或利用自有实验室完成所有测试项目。
- 数据整理与报告： 收集所有测试数据，整理成详细的认证报告。
- 提交客户： 将完整的认证报告提交给汽车行业的客户（Tier 1供应商或整车厂），由客户审核认可。
总结
AEC-Q100不仅是一套测试标准，更是车规级芯片高质量、高可靠性的代名词。它为芯片设计和制造商提供了明确的验证指南，也为汽车厂商选择合格元器件设立了清晰的门槛。对于任何希望进入汽车电子供应链的芯片公司而言，通过AEC-Q100的严格考验是必不可少的一步。