可靠性测试

AEC-Q100认证，车规芯片测试标准解读

AEC-Q100不仅是一套测试标准，更是车规级芯片高质量、高可靠性的代名词。深入解读AEC-Q100车规级芯片可靠性测试标准。本文详解其核心测试组、温度等级划分、认证流程及重要性，助您全面了解汽车电子元器件准入门槛。

2025年9月26日 车规芯片AEC-Q

电子元器件高温高湿测试详解：标准、方法与参数设计

系统讲解电子元器件高温高湿测试要点：双85标准、恒定湿热与交变湿热的区别，MIL-STD-202 与 IEC 60068 规范差异，AEC-Q100 对车规器件的要求；并给出85℃/85%RH测试时长设置、温湿度循环参数、温变速率与绝缘电阻测量方法，以及工程实践中的偏压设置、样品数量与失效分析注意事项，帮助研发与质量团队建立可靠的环境应力评估流程。

2025年8月28日 技术文章

可靠性测试方案

提供专业的可靠性测试方案制定服务。根据产品和标准要求，定制全面、高效的测试计划（含HTOL、TC、HAST等），确保芯片及电子产品可靠性。

2025年3月21日 芯片可靠性测试