芯片可靠性测试中的气候老化(Weathering)测试

随着物联网、智能电网、车载电子和户外通信设备的普及,越来越多的芯片被部署在无遮蔽的户外环境中——直面阳光暴晒、昼夜温差、酸雨侵蚀甚至沙尘磨蚀。这些自然因素虽不直接作用于硅芯,却会加速封装材料老化,进而引发开裂、分层、变色、漏电甚至功能失效。

为提前暴露此类风险,气候老化(Weathering)测试成为高可靠性芯片验证的关键环节。不同于传统高温高湿或温度循环,气候老化模拟的是真实户外多应力耦合环境,尤其关注紫外线(UV)、热-湿-光协同效应对环氧塑封料、底部填充胶、引线框架等封装组件的影响。

本文将系统介绍气候老化测试的标准方法、关键参数、典型失效模式及工程应对策略。

一、气候老化测试的核心应力要素

气候老化并非单一环境模拟,而是多物理场耦合加速试验,主要包括:

应力类型 影响机制 关键参数
紫外线(UV)辐射 破坏有机材料化学键(如C-C、C-O),导致黄变、脆化、开裂 波长295–400 nm,辐照强度0.35–1.10 W/m²@340nm
温度循环 材料CTE失配引发热机械应力,导致分层、焊点疲劳 -40°C ↔ +85°C 或更高,升降温速率5–10°C/min
湿气与冷凝 水汽渗透引起界面脱粘、金属腐蚀、离子迁移 相对湿度60–95%,周期性喷淋或冷凝
雨水/酸雨模拟 冲刷表面污染物,或通过微裂纹侵入内部 pH 4.0–5.6(模拟酸雨),喷淋流量≥4 L/m²·min

⚠️ 注意:单独UV或湿热测试不足以复现户外失效,必须多应力同步或交替施加。

二、主流气候老化测试标准与方法

目前国际上广泛采用以下标准构建测试方案:

标准 名称 适用场景 特点
IEC 60068-2-5 模拟地面太阳辐射(Solar Radiation) 户外电子设备 使用氙灯或碳弧灯,控制光谱匹配AM1.5
IEC 60068-2-18 雨水与湿热综合试验(Rain & Damp Heat) 车载、通信基站 喷淋+高温高湿循环
JESD22-A114 温度循环(Temperature Cycling) 所有可靠性测试基础 常与气候老化联用
SAE J2527 / J2412 汽车外饰件氙灯老化 车规传感器外壳、镜头 严苛UV+喷淋+暗周期
ISO 4892-2 塑料实验室光源暴露(Xenon-arc) 封装材料筛选 可编程光-热-湿循环

行业实践:对于光伏、5G AAU、车规摄像头等产品,常采用 “氙灯老化 + 温度冲击 + 喷淋”组合测试,总时长500–2000小时。

三、气候老化引发的典型封装失效模式

失效类型 表现 根本原因
塑封料黄变与粉化 外观发黄、表面起粉、透光率下降 UV导致环氧树脂交联网络降解
界面分层(Delamination) 芯片-塑封料、基板-塑封料脱粘 湿气+热循环削弱界面结合力
引线框架腐蚀 金属氧化、键合点脱落 酸雨或盐雾通过微裂纹侵入
光学窗口雾化 摄像头/光感器件透光率骤降 表面微裂纹+污染物沉积
电性能漂移 漏电流增大、绝缘电阻下降 水汽+离子污染物形成导电通路

📊 数据参考:据JEDEC JEP122G指出,UV老化可使普通环氧塑封料的拉伸强度下降30%以上,显著降低抗机械冲击能力。

四、提升抗气候老化能力的工程对策

1. 材料升级

  • 选用UV稳定型塑封料:添加炭黑、TiO₂或有机紫外吸收剂(如HALS);
  • 光学窗口采用石英玻璃或UV截止滤光片,阻隔<400 nm有害波段;
  • 底部填充胶选择脂肪族环氧体系(比芳香族更耐黄变)。

2. 结构优化

  • 在芯片边缘设计应力缓冲槽,缓解热循环开裂;
  • 对暴露焊盘实施NiPdAu镀层,提升耐腐蚀性;
  • 增加共形涂层(Conformal Coating) 作为第一道防护屏障。

3. 工艺控制

  • 严格控制塑封过程中的空洞率(<3%),避免湿气聚集;
  • 固化后执行后烘烤(Post Mold Cure),提升交联密度;
  • 存储与运输使用防UV包装袋

五、气候老化测试实施建议

  • 样品状态:应使用最终量产封装形态,包括外壳、透镜、涂层等;
  • 监测方式:定期取出样品,检查外观、附着力(如胶带测试)、电性能;
  • 失效判定:不仅看功能,还需评估材料性能退化(如色差ΔE > 5视为明显黄变);
  • 加速因子谨慎使用:UV老化非线性效应强,不可简单按时间比例外推寿命。

总结

气候老化测试是连接“实验室”与“真实户外”的桥梁。它揭示的不仅是芯片能否工作,更是封装系统在复杂自然环境下的长期生存能力。对于部署在严苛户外场景的电子系统,忽略气候老化验证,无异于将产品置于“未爆雷区”。

作为专业的可靠性测试服务商,上海德垲检测支持光-热-湿-喷淋多应力耦合测试,并可结合SEM、FTIR、色差仪等手段进行深度老化机理分析。

如您在户外电子产品的气候老化验证、封装材料筛选或失效根因排查方面有需求,欢迎联系我司获取定制化解决方案。

获取报价

13360540109

填写以下信息,我们将为您免费评估认证方案和报价

※ 请填写真实信息,我们将第一时间与您联系!

免费获取方案

注意:每日仅限20个名额

今日已申请 8人
张先生 138****5889 刚刚获取
李女士 159****5393 3分钟前获取
王经理 186****9012 7分钟前获取
赵总 135****7688 12分钟前获取
刘先生 139****7889 18分钟前获取
陈女士 158****1887 25分钟前获取
杨经理 187****6696 30分钟前获取
周总 136****0539 35分钟前获取
今日还剩 12个名额
×

免费咨询方案

免费咨询认证方案和报价

电话咨询

咨询服务热线
400-772-2056
13360540109

微信咨询
微信二维码

扫码添加微信咨询

给我回电
返回顶部
电话咨询 给我回电