高温老化测试

HTOL测试如何保障芯片长期可靠性？

深入讲解HTOL测试流程、参数及在芯片可靠性中的作用，掌握高温老化测试技术，保障5G、AI芯片长期稳定。

2025年9月24日 常见问题

电子元器件失效原因解析

本页面系统介绍电子元器件失效分析的原理与方法，重点阐述高温老化测试在可靠性评估中的作用，包括电迁移、栅氧化层击穿、热载流子效应等常见失效机制，覆盖各类IC产品如CPU、GPU、PMIC、车规芯片等。通过对测试标准（JEDEC、AEC-Q100）及服务周期的详尽解析，为产品设计验证、工艺改进和量产阶段的失效预防提供专业技术支持和数据依据。

2025年8月7日 技术文章

高温老化测试(HTOL)

专业的高温老化测试服务，评估芯片在高温环境下的性能稳定性。我们采用先进的HTOL测试设备，模拟芯片在高温环境下长期工作的状态，全面评估芯片的可靠性和寿命，为产品质量提供有力保障。

2025年3月16日 芯片可靠性测试