Latch-up（锁存效应）测试原理、触发条件与 PCB 测试板设计规范

系统解析Latch-up锁存效应的寄生SCR机理、测试原理与判定方法，梳理引脚电流注入、电源过冲、热插拔、高温等触发条件，并给出PCB测试板在电源平面、去耦布局、低阻抗回路、电流监测与保护设计方面的规范，为芯片可靠性验证提供工程依据，适用于车规与高可靠芯片的闩锁风险评估、测试方案开发与失效预防。

2026年9月3日 新闻资讯