芯片环境适应性测试的条件及方法与应用

全面讲解芯片可靠性测试中环境适应性测试的目的与意义、参考标准、典型测试条件(高低温、高湿、温变、气压波动等)、测试设备与方法(环境试验仓、温湿均匀性、多通道采集等),并结合功率器件、车规芯片、射频芯片等典型应用场景给出实用建议,帮助研发与可靠性工程师构建完整验证体系。