芯片 ESD 静电测试（HBM / MM / CDM 模型）标准与防静电设计验证指南

本文系统解析芯片ESD静电测试中HBM、MM、CDM三大模型的失效机理、波形特征与主流标准，梳理测试等级、样本策略、判定依据与失效分析路径，并给出防静电设计验证方法，帮助研发与可靠性团队建立从芯片级测试到量产防护的完整验证闭环，覆盖车规、工业与消费类芯片常见评估需求。

2026年9月3日 公司新闻