车规芯片测试

本文围绕车规芯片与消费级芯片在可靠性验证、环境应力、电性能测试、失效分析、批次追溯、变更管理和标准体系方面的差异进行系统对比，解析AEC-Q100与功能安全量产测试要求，帮助研发、质量与测试工程师建立完整验证思路，减少后期召回与质量成本，并覆盖可靠性样本量、失效判定与数据追溯等关键细节。