芯片寿命

系统解析芯片寿命加速测试：覆盖JEDEC JESD22、Telcordia GR-468-CORE、MIL-STD-883等权威标准；深入解读HTOL、HTSL、ETR烧机、温度循环TCT与高加速湿热HAST等核心方法；给出测试时长与加速因子设定、样本量与判据、数据建模与失效物理关联、成本与效率权衡，以及面向车规/工规/消费级的实施要点与常见误区，帮助研发与质量团队快速搭建可复制的可靠性验证流程。