芯片测试服务

案例研究：德垲如何通过失效分析助某客户提升芯片良率？

本文通过一个真实案例，展示了上海德垲检测如何利用其专业的芯片失效分析能力，帮助一家领先的半导体设计公司快速定位其核心XX类型芯片的良率瓶颈，并提出有效改进建议，最终实现量产良率的大幅提升，加速了产品上市进程。

2025年4月25日 典型案例

定制化测试方案

专业的芯片定制化测试方案服务。根据特定需求，量身设计整合ATE、可靠性、失效分析等测试策略，解决疑难问题，优化测试效率与覆盖率。

2025年4月13日 专业测试服务

ATE测试程序开发

提供专业的ATE测试程序开发服务。为Advantest、Teradyne等平台创建高效、可靠的芯片测试软件，实现量产中的功能与参数自动化测试。

2025年3月24日 芯片测试开发

芯片功能测试

提供专业芯片功能测试服务，验证集成电路是否符合设计规范。覆盖逻辑、接口、性能测试，使用ATE和测试平台，保障芯片质量与最终产品功能。

2025年3月22日 芯片测试开发