如何用OBIRCH快速定位芯片内部短路点？

详解OBIRCH（光束诱导电阻变化）技术在芯片失效分析中的应用，涵盖工作原理、激光参数设置、信号处理技巧与定位精度优化方法，助力工程师高效锁定内部短路故障。关键词：芯片失效分析, OBIRCH, 短路定位。

2025年12月2日 常见问题