芯片金属腐蚀失效的环境诱因与FA证据
深入解析氯离子（Cl⁻）、二氧化硫（SO₂）等环境污染物如何诱发芯片铝/铜金属腐蚀，结合SEM形貌与EDS元素分析，揭示典型失效特征与根因判断依据。关键词：金属腐蚀, 芯片失效分析。
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