主流 ATE 测试平台分类与应用详解

本文深度解析半导体行业主流 ATE 测试平台分类，涵盖数字、模拟、射频及 SoC 测试设备厂商对比。详解选型标准与技术趋势，为芯片测试开发及可靠性评估提供专业参考。针对 CP 与 FT 测试环节，分析不同架构设备性能差异，助力企业优化测试方案，降低量产成本，提升芯片良率与市场竞争力。

2026年5月27日 常见问题